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ECTS-2000变温电卡效应测试系统

  • 测试通道
    单通道
  • 测试参数
    熵变△S;温变△T;电卡强度
  • 测试波形
    波形;用户可指定
  • 样品参数
    最大直径φ10 mm
  • 高压源
    5kV高压放大器,可扩展10kV高压放大器;兼容国产、进口高压放大器
  • 高压击穿保护
  • 控温精度
    ±0.1 ℃
  • 控温速率
    1~10 ℃/min
  • 温度范围
    -40 ~ 120 ℃;RT~ 120 ℃
  • 测量精度
    0.001 mW
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△S熵变  △T温变  电卡强度   
 

     ECTS-2000变温电卡效应测试系统采用直接法进行测量,直接测量电卡效应的等温熵变,具有集成度高、测量精度高、灵敏度高、温区宽等特点,具有高压击穿保护功能。

    ECTS-2000配置专用的电卡效应温控装置,实现变温电卡效应测试,RT~120℃或-40~120℃两种温区可选。

    ECTS-2000变温电卡效应测试系统研发历程:

    ECTS-2000变温电卡效应测试系统继承原有系统(由主控器、示波器、信号发生器、高压放大器、温控装置等分立设备搭建而成)测试原理(等温熵变法),升级了测试软件。新的系统在测试精度、测试效率上都有提高,大大节约了科研人员的时间,详情请咨询我司!


 
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